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    • YTC3991真空度測(cè)量?jī)x
      YTC3991真空度測(cè)量?jī)x
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      更新時(shí)間:2024-05-09

    • HL-2C真空度測(cè)量?jī)x
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      更新時(shí)間:2024-05-09

    • ZKY-2000真空度測(cè)量?jī)x
      ZKY-2000真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • DZK-H真空度測(cè)量?jī)x
      DZK-H真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

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    • HL-ZKD 真空度測(cè)量?jī)x
      HL-ZKD 真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • BK8381P真空度測(cè)量?jī)x
      BK8381P真空度測(cè)量?jī)x
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    • YHZKY真空度測(cè)量?jī)x
      YHZKY真空度測(cè)量?jī)x
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    • ZKD-2000真空度測(cè)量?jī)x
      ZKD-2000真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • GD2660真空度測(cè)量?jī)x
      GD2660真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • STVC-1000真空度測(cè)量?jī)x
      STVC-1000真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • XJM397352真空度測(cè)量?jī)x
      XJM397352真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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    • JYK-III真空度測(cè)量?jī)x
      JYK-III真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • GH-6100真空度測(cè)量?jī)x
      GH-6100真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • BY3650真空度測(cè)量?jī)x
      BY3650真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • BDL-125真空度測(cè)量?jī)x
      BDL-125真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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    • XJM39真空度測(cè)量?jī)x
      XJM39真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • DDKB-1真空度測(cè)量?jī)x
      DDKB-1真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • DVM-99真空度測(cè)量?jī)x
      DVM-99真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

      更新時(shí)間:2024-05-09

    • LCZK188真空度測(cè)量?jī)x
      LCZK188真空度測(cè)量?jī)x
      真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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